Super X-Ray -aluetiheysmittari

Sovellukset

Mittaus soveltuu yli 1600 mm:n pinnoitteen leveydelle. Tukee erittäin nopeaa skannausta.

Pieniä piirteitä, kuten ohenemisalueita, naarmuja ja keraamisia reunoja, voidaan havaita.

Tuotetiedot

Tuotetunnisteet

Mittausperiaatteet

Kun säde osuu elektrodiin, se absorboi, heijastaa ja sirottaa säteen, mikä johtaa lähetetyn elektrodin jälkeisen säteen intensiteetin tiettyyn vaimenemiseen suhteessa tulevan säteen intensiteettiin, ja sen vaimennussuhde on negatiivisesti eksponentiaalinen elektrodin painon tai pinta-alatiheyden kanssa.

I=I_0 e^−λm⇒m= 1/λln(I_0/I)

I_0: Alkuperäinen säteen intensiteetti

I: Säteen intensiteetti lähettävän elektrodin jälkeen

λ : Mitattavan kohteen absorptiokerroin

m : Mitattavan kohteen paksuus/pinta-alatiheys

Laitteiden kohokohdat

Puolijohdeanturin ja laseranturin mittauksen vertailu

● Yksityiskohtaisten ääriviivojen ja rakenteiden mittaus: millimetrin spatiaalisen resoluution alueellisen tiheyden ääriviivojen mittaus suurella nopeudella ja tarkkuudella (60 m/min)

● Ultraleveyden mittaus: soveltuu yli 1600 mm:n pinnoitteen leveydelle.

● Erittäin nopea skannaus: säädettävä skannausnopeus 0–60 m/min.

● Innovatiivinen puolijohdesädeilmaisin elektrodimittauksiin: 10 kertaa nopeampi vasteaika kuin perinteisillä ratkaisuilla.

● Lineaarimoottorin nopea ja tarkka käyttö: skannausnopeus on 3–4 kertaa suurempi kuin perinteisissä ratkaisuissa.

● Itse kehitetyt nopeat mittauspiirit: näytteenottotaajuus on jopa 200 kHz, mikä parantaa suljetun silmukan pinnoitteen tehokkuutta ja tarkkuutta.

● Ohennuskyvyn häviön laskeminen: täplän leveys voi olla jopa 1 mm pieni. Se voi mitata tarkasti yksityiskohtaisia ominaisuuksia, kuten reunan ohenemisalueen ääriviivoja ja elektrodin pinnoitteen naarmuja.

Ohjelmistoliittymä

Mittausjärjestelmän pääkäyttöliittymän mukautettava näyttö

● Harvennusalueen määritys

● Kapasiteetin määritys

● Naarmuuntumisen määritys

Tekniset parametrit

Tuote	Parametri
Säteilysuojaus	Säteilyannos 100 mm:n etäisyydeltä laitteen pinnasta on alle 1 μsv/h
Skannausnopeus	0-60 m/min säädettävä
Näytteenottotaajuus	200 kHz
Vastausaika	<0,1 ms
Mittausalue	10–1000 g/㎡
Spotin leveys	1 mm, 3 mm, 6 mm valinnainen
Mittaustarkkuus	P/T≤10%Integraali 16 sekunnissa: ±2σ: ≤±todellinen arvo × 0,2‰ tai ±0,06 g/㎡; ±3σ: ≤±todellinen arvo × 0,25‰ tai ±0,08 g/㎡;Integraali 4 sekunnissa: ±2σ: ≤±todellinen arvo × 0,4‰ tai ±0,12 g/㎡; ±3σ: ≤±todellinen arvo × 0,6‰ tai ±0,18 g/㎡;